投影仪测量标准_投影仪测评家用

光峰科技申请物体三维测量方法专利,可有效提高物体三维测量的准确度投影系统及计算机可读存储介质“公开号CN117629107A,申请日期为2022年8月。专利摘要显示,本申请公开了物体三维测量方法、投影系统及计算机可读存储介质,该物体三维测量方法包括:获取第一图像和多个第二图像,其中,所述第一图像为由投影设备投影源图像至基准面形成的图像说完了。

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环申新材申请透明包装袋瑕疵检测专利,提高透明包装袋的检测效率本申请涉及包装袋检测技术领域,具体公开了一种透明包装袋瑕疵检测系统及方法,所述系统包括:图像采集模块用于获取照明灯光透过透明包装袋的投影图像,并获取当前投影参数;图像检测模块用于根据投影图像,通过预设的标准图像模板进行图像对比,并将对比结果不一致的投影图像记为后面会介绍。

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长鑫存储申请测量图形及其制备方法、测量方法、装置、设备及介质...本公开涉及一种测量图形及其制备方法、测量方法、装置、设备及介质,测量图形包括本体层,本体层包括位于其中部的阵列区及环绕阵列区的外围区;外围区在晶圆上表面的正投影包括环绕阵列区的连续封闭图形,外围区具有标准参数,标准参数包括预设零值偏移量数据;阵列区内包括阵列说完了。

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